隨著我國科技的不斷發展，led光譜分析儀在分析偏差的領域中得到了廣泛的應用，作者根據自身多年的工作經驗對電火花直讀光譜儀分析鑄鐵的化學組成，以及產生偏差的原因進行分析，闡述了降低偏差的主要方法.

用(yong)led光譜(pu)分(fen)析(xi)(xi)儀進行(xing)爐前(qian)鐵水化(hua)學(xue)(xue)(xue)元(yuan)(yuan)(yuan)素含(han)量分(fen)析(xi)(xi)，是近年來(lai)鑄(zhu)造行(xing)業爐前(qian)鐵水化(hua)學(xue)(xue)(xue)成(cheng)份控(kong)制。光譜(pu)儀分(fen)析(xi)(xi)具有很多優點:速(su)度快，從(cong)試樣的制作到光譜(pu)儀分(fen)析(xi)(xi)結(jie)束需2~3分(fen)鐘，當鐵水化(hua)學(xue)(xue)(xue)元(yuan)(yuan)(yuan)素含(han)量在光譜(pu)儀分(fen)析(xi)(xi)范圍內時分(fen)析(xi)(xi)偏差≤1%;分(fen)析(xi)(xi)化(hua)學(xue)(xue)(xue)元(yuan)(yuan)(yuan)素種類全(quan)，可根據(ju)需要(yao)分(fen)析(xi)(xi)化(hua)學(xue)(xue)(xue)元(yuan)(yuan)(yuan)素:操作簡單(dan)，只要(yao)經過短期培(pei)訓即會操作。

雖然(ran)led光譜(pu)(pu)分(fen)析(xi)儀偏(pian)差正常規定(ding)≤1%，但我(wo)們(men)在(zai)實際操作中偏(pian)差常大于1%達到5%，這(zhe)種偏(pian)差常發生在(zai):試樣(yang)不同部(bu)位(wei)的(de)光譜(pu)(pu)儀分(fen)析(xi)、同一個(ge)(ge)試樣(yang)在(zai)不同的(de)光譜(pu)(pu)儀上分(fen)析(xi)、同一個(ge)(ge)試樣(yang)用手工和光譜(pu)(pu)儀對比方(fang)分(fen)析(xi)。針(zhen)對偏(pian)差我(wo)們(men)進行了(le)研究分(fen)析(xi)，總結出主要由以下(xia)幾方(fang)面(mian)原因造成的(de)以及相(xiang)應(ying)的(de)改正措施(shi)。

試樣原因及改正措施(shi)

一般而言，大(da)的誤差來源于(yu)試(shi)樣本身。

1、光(guang)譜儀(yi)分(fen)析采用的試樣應為(wei)(wei)白(bai)口試樣而不能為(wei)(wei)灰口試樣。

因為(wei)灰口(kou)試樣被(bei)光譜(pu)儀激發(fa)時由于表層(ceng)電阻(zu)大，不易被(bei)電流擊穿，從而影響分析，得到的值偏低

2、準備激發時，試樣溫(wen)(wen)度應為室溫(wen)(wen)(≤20℃)。

3、試樣面積(ji)應大(da)于火花激(ji)發(fa)臺激(ji)發(fa)孔      

led光譜分析儀過程，是由若千環節所組成的，每--個環節都產生一定的誤差。當無過失誤差時，led光譜分析儀的誤差來源主要是系統誤差和偶然誤差，所有這些誤差的總和，便決定了led光譜分析儀的準確度。而分析的準確度包含兩方面內容，一是分析的正確性，二是分析的再現性。正確性表示分析結果與真實含量的接近程度。系統誤差小，正確性高。精密度(再現性)表示多次分析結果的離散程度。當沒有系統誤差，或者系統誤差比偶然誤差小得多時，精密度就等于準確度。           //www.teamrois.cn/