在整(zheng)個(ge)LED產業(ye)鏈中，從芯片一(yi)直到封(feng)裝(zhuang)、成品(pin)，均(jun)需要對產品(pin)的各(ge)項(xiang)光電指標進行測試(shi)。而大(da)部分LED廠商(shang)會發現，經過測試以后，LED產品的(de)(de)(de)(de)壽命會(hui)受到(dao)一定(ding)(ding)影響，甚至有的(de)(de)(de)(de)在測(ce)(ce)試(shi)過程中(zhong)就(jiu)(jiu)已經直接報廢。這(zhe)是為(wei)什(shen)么?當使(shi)用(yong)(yong)微小電流進行LED測(ce)(ce)試(shi)時，電流越(yue)小，等(deng)待(dai)LED點(dian)亮的(de)(de)(de)(de)時間就(jiu)(jiu)越(yue)長，測(ce)(ce)試(shi)效率非(fei)常低下(xia)。這(zhe)又(you)是為(wei)什(shen)么?國內大部分的(de)(de)(de)(de)廠商都認為(wei)這(zhe)是LED產品本(ben)身的(de)(de)(de)(de)特性所(suo)決定(ding)(ding)的(de)(de)(de)(de)，非(fei)人力(li)所(suo)能改變，其實不(bu)然。目前，在歐美(mei)、日本(ben)、臺灣等(deng)LED產業相對(dui)發(fa)達的(de)(de)(de)(de)地區，各大LED廠商已經開始選用(yong)(yong)LED測(ce)(ce)試(shi)專(zhuan)(zhuan)用(yong)(yong)電源(yuan)供應(ying)(ying)器來(lai)應(ying)(ying)對(dui)這(zhe)一問題。ITECH艾德克斯也(ye)專(zhuan)(zhuan)門推出了IT6200雙(shuang)范(fan)圍可編(bian)程直流電源(yuan)系列(lie)，搭配LED測(ce)(ce)試(shi)系統進行測(ce)(ce)試(shi)，可有效減少(shao)LED產品在測試(shi)過程中的壽(shou)命折損，同(tong)時提高測試(shi)效(xiao)率，使(shi)產能(neng)得以{zd0}化(hua)。

引(yin)言

    LED是(shi)英文Light Emitting Diode(發光二(er)極(ji)(ji)管(guan)(guan))的(de)(de)縮寫，它(ta)的(de)(de)基(ji)本結構是(shi)一(yi)(yi)塊電(dian)致(zhi)發光的(de)(de)半(ban)導(dao)體(ti)材(cai)料，核心部分(fen)是(shi)由p型(xing)半(ban)導(dao)體(ti)和(he)(he)(he)n型(xing)半(ban)導(dao)體(ti)組成的(de)(de)晶片(pian)，這種利用注入式電(dian)進行發光的(de)(de)二(er)極(ji)(ji)管(guan)(guan)叫發光二(er)極(ji)(ji)管(guan)(guan)，通稱LED。LED產(chan)品(pin)(pin)可謂(wei)是(shi)五花八門。上游(you)的(de)(de)芯片(pian)是(shi)LED的(de)(de)技(ji)術核心，它(ta)的(de)(de)光電(dian)性能(neng)、體(ti)積(ji)厚度都決定了(le)封裝出燈珠的(de)(de)品(pin)(pin)質和(he)(he)(he)應用領域;LED light bar、LED背光源(yuan)以及下(xia)游(you)的(de)(de)LED手機、電(dian)腦(nao)、電(dian)視機顯示(shi)屏(ping)和(he)(he)(he)LED燈具等成品(pin)(pin)，所有這些LED產(chan)品(pin)(pin)都無一(yi)(yi)不需要進行多種光電(dian)測試。