安規綜合測試系統，屬于AIP歐盛電子研發生產的一站式安規綜合測試設備，用于測試耐壓，接地，泄漏，絕緣，功率，低啟等項目。

1、 何謂耐(nai)壓測試?

耐(nai)壓(ya)測(ce)試(shi)(shi)是(shi)常(chang)見(jian)的安規測(ce)試(shi)(shi)之一(yi)(yi)，常(chang)見(jian)的dielectric withstand、high potential、hipot test都是(shi)指耐(nai)壓(ya)測(ce)試(shi)(shi)。耐(nai)壓(ya)測(ce)試(shi)(shi)的主要(yao)目(mu)的測(ce)試(shi)(shi)DUT(Device under Test)的絕緣能力。故當設備在運作時，對測(ce)試(shi)(shi)點施以(yi)一(yi)(yi)高(gao)壓(ya)，測(ce)試(shi)(shi)是(shi)否有絕緣破壞(huai)(Breakdown)或電氣閃絡(Flashover/ARC)發(fa)生。

2 、在安規中絕(jue)緣(yuan)有幾種類型(xing)?

絕(jue)(jue)緣(yuan)(yuan)類型分(fen)為四(si)種：基本絕(jue)(jue)緣(yuan)(yuan)(Basic)、輔助絕(jue)(jue)緣(yuan)(yuan)(Supplementary)、雙重絕(jue)(jue)緣(yuan)(yuan)(Double)以(yi)及(ji)加強絕(jue)(jue)緣(yuan)(yuan)(Reinforced)。由於(wu)產品(pin)(pin)內(nei)部(bu)可(ke)能因(yin)灰(hui)塵過多、潮(chao)濕或(huo)是其他(ta)原因(yin)導致沿面放電，因(yin)此也(ye)須以(yi)耐(nai)壓測試(shi)判斷產品(pin)(pin)內(nei)部(bu)電路設計是否有沿面距離或(huo)絕(jue)(jue)緣(yuan)(yuan)不足等問題。

3 、在AC耐壓測試時，為何(he)需要real current 的判斷？

AC輸(shu)出(chu)總電(dian)流(liu)(total current)可能因部份內部容抗而造成與真實(shi)(shi)測試(shi)電(dian)流(liu)(real current)之間(jian)的差異。電(dian)流(liu)在(zai)輸(shu)出(chu)時(shi)，若(ruo)受到較(jiao)大容抗時(shi)，反應(ying)電(dian)流(liu)(reactive)會(hui)較(jiao)大，而使得真實(shi)(shi)測試(shi)電(dian)流(liu)相(xiang)對變小(xiao)。若(ruo)無法(fa)準確測量輸(shu)出(chu)電(dian)流(liu)與加(jia)以補償(chang)，會(hui)造成測試(shi)上的盲點。

4 、在(zai)DC耐壓測試時，為何(he)需要緩升(sheng)時間？

DC耐壓測試通常(chang)會(hui)需(xu)要(yao)加上緩升時(shi)間以及放(fang)電(dian)時(shi)間，因(yin)為(wei)大多的(de)DUT具有(you)電(dian)容(rong)性而(er)會(hui)導致充(chong)電(dian)電(dian)流產生。為(wei)了使充(chong)電(dian)變位電(dian)流(charge current)穩定，需(xu)要(yao)緩升時(shi)間來緩沖，才(cai)不會(hui)因(yin)充(chong)電(dian)電(dian)流而(er)導致漏電(dian)流過高，進而(er)判斷為(wei)不良品(FAIL)。

5 、在做耐壓(ya)測(ce)試時，為何(he)需要緩降時間？

耐(nai)壓測試(shi)會使DUT充(chong)電(dian)，因此(ci)在耐(nai)壓測試(shi)結束時須一段時間來進行放(fang)電(dian)，優良的耐(nai)壓測試(shi)設備會將放(fang)電(dian)時間減(jian)至(zhi)少，并且在未達放(fang)電(dian)標準前會明(ming)顯標示危險警告，以(yi)防止(zhi)測試(shi)人員不當接觸而受到電(dian)氣傷害(hai)。

6 、何謂(wei)flashover 電氣閃絡(ARC)?

安(an)規標準中明顯指出不(bu)得(de)有絕緣(yuan)破(po)壞(Breakdown)發生(sheng)，而部份安(an)規標準更要求不(bu)得(de)有電(dian)氣(qi)閃絡(Flashover/ARC發生(sheng)，但(dan)并無(wu)測試標準。ARC是屬於(wu)電(dian)氣(qi)放電(dian)的一種，當ARC發生(sheng)時已表示絕緣(yuan)能力已不(bu)足，若多次的ARC發生(sheng)，則會導致絕緣(yuan)破(po)壞。

7 、為何需要做電(dian)壓補償(chang)?

在耐壓(ya)(ya)測(ce)試(shi)(shi)中，測(ce)試(shi)(shi)電(dian)(dian)(dian)壓(ya)(ya)的標(biao)準是判(pan)斷良品(pin)的主要因素之一。許多耐壓(ya)(ya)測(ce)試(shi)(shi)設(she)備以變壓(ya)(ya)器將低電(dian)(dian)(dian)壓(ya)(ya)轉換為(wei)高(gao)電(dian)(dian)(dian)壓(ya)(ya)後輸出，但(dan)儀器的內部阻(zu)抗會造成(cheng)分壓(ya)(ya)，尤其在一些品(pin)質不(bu)良的耐壓(ya)(ya)測(ce)試(shi)(shi)設(she)備中，實(shi)際輸出電(dian)(dian)(dian)壓(ya)(ya)無法達到(dao)安規(gui)標(biao)準。為(wei)避免(mian)失誤判(pan)定為(wei)良品(pin)而造成(cheng)不(bu)必要的困擾，優(you)良的耐壓(ya)(ya)測(ce)試(shi)(shi)設(she)備會以自動增益(yi)補(bu)償(chang)(Auto Gain Compensation)修正與(yu)補(bu)償(chang)電(dian)(dian)(dian)壓(ya)(ya)至所(suo)須電(dian)(dian)(dian)壓(ya)(ya)值(zhi)，并將電(dian)(dian)(dian)壓(ya)(ya)表設(she)計於輸出端，以便正確(que)量測(ce)輸出電(dian)(dian)(dian)壓(ya)(ya)是否(fou)不(bu)足。

8 、何謂接地阻抗測試?

接(jie)(jie)地保(bao)護有(you)二種(zhong)測(ce)試方法：接(jie)(jie)地連續測(ce)試(Ground Continuity test, GC)及接(jie)(jie)地連接(jie)(jie)測(ce)試(Ground Bond test, GB)。接(jie)(jie)地保(bao)護測(ce)試的目的在於不(bu)讓使(shi)用者(zhe)在不(bu)當電流產生時，電流會流向大地，接(jie)(jie)觸機體則不(bu)會導致(zhi)電氣危害。

9 、何謂絕緣阻抗測試?

絕緣(yuan)阻抗測(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)和直流耐(nai)壓(ya)測(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)是(shi)非常(chang)相似的，於相關連的兩點施以直流電壓(ya)(50~1000V)，可判定(ding)良(liang)品及不(bu)良(liang)品。絕緣(yuan)阻抗測(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)為非破壞試(shi)(shi)(shi)驗，且能(neng)偵測(ce)(ce)絕緣(yuan)是(shi)否良(liang)好，在某(mou)些規范中，是(shi)先做絕緣(yuan)阻抗測(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)再(zai)進行耐(nai)壓(ya)測(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)，而絕緣(yuan)阻抗測(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)無(wu)法(fa)通過(guo)(guo)時，往往耐(nai)壓(ya)測(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)也無(wu)法(fa)通過(guo)(guo)。

10、 何謂漏電流(liu)?

當電(dian)(dian)(dian)流經(jing)過(guo)絕緣阻抗後溢出(chu)，稱之為漏電(dian)(dian)(dian)流(Leakage current)，當漏電(dian)(dian)(dian)流經(jing)由(you)人(ren)體(ti)接(jie)觸，使電(dian)(dian)(dian)流經(jing)過(guo)人(ren)體(ti)後流向(xiang)Earth，即造成電(dian)(dian)(dian)氣傷害。漏電(dian)(dian)(dian)流測(ce)試(shi)與耐壓測(ce)試(shi)、接(jie)地(di)保護測(ce)試(shi)的不同處，在(zai)於設備是在(zai)運作(zuo)狀態(tai)下做測(ce)試(shi)。漏電(dian)(dian)(dian)流測(ce)試(shi)中(zhong)會加上(shang)一個(ge)人(ren)體(ti)模(mo)擬阻抗電(dian)(dian)(dian)路，可模(mo)擬在(zai)真實情況下漏電(dian)(dian)(dian)流經(jing)過(guo)人(ren)體(ti)的大小。      

中山市新儀電子儀器有限公司，自1998年成立以來，旺和電子儀表行歷經21年，現已成立新儀電子儀器有限公司從事各類檢測儀器、設備的銷售和服務，公司一向貫徹“質量保證、價格合理、服務好、用戶至上”的原則，本著“誠信、專業、服務、發展”的經營方針，竭誠為廣大用戶服務。         //www.teamrois.cn/